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粉末衍射儀是一種科學(xué)實驗儀器，用于研究和分析晶體材料的結(jié)構(gòu)。它通過將X射線或中子束等輻射束照射到粉末樣品上，并測量樣品散射的衍射圖案來獲取結(jié)晶材料的信息。這些衍射圖案可以提供關(guān)于晶體中原子排列、晶格常數(shù)、晶體取向等方面的信息，從而幫助研究者確定材料的結(jié)構(gòu)特征。粉末衍射技術(shù)在材料科學(xué)、化學(xué)、地質(zhì)學(xué)等領(lǐng)域中廣泛應(yīng)用，對于研究和開發(fā)新材料具有重要意義。一、粉末衍射儀對測試樣品的要求送檢樣品可為粉末狀、塊狀、薄膜及其它形狀。粉末樣品需要量約為0.2g(視其密度和衍射能力而定);塊狀樣...

特征X射線及其X射線衍射是一種波長很短的電磁波，能穿透一定厚度的物質(zhì)，并能使熒光物質(zhì)發(fā)光、照相乳膠感光、氣體電離。在用高能電子束轟擊金屬“靶”材產(chǎn)生X射線，它具有與靶中元素相對應(yīng)的特定波長，稱為特征（標識）X射線。首先，衍射這個詞本身指波遇到障礙物偏離原直線傳播方向的現(xiàn)象。無論是衍射還是反射，其機理都是光在某處（原子）發(fā)生散射，這個散射是向全空間的散射可參照惠更斯原理。散射波的疊加形成反射，折射，衍射等各種現(xiàn)象。這是一切波的普適性質(zhì)。如X射線在平滑介面上也發(fā)生反射，相應(yīng)的實驗...

x射線光電子能譜分析儀器經(jīng)常又被稱為化學(xué)分析用電子譜，是一種zui主要的表面分析工具。XPS作為當代譜學(xué)領(lǐng)域中zui活躍的分支之一，它除了可以根據(jù)測得的電子結(jié)合能確定樣品的化學(xué)成份外，XPSzui重要的應(yīng)用在于確定元素的化合狀態(tài)。XPS可以分析導(dǎo)體、半導(dǎo)體甚至絕緣體表面的價態(tài)，這也是XPS的一大特色，是區(qū)別于其它表面分析方法的主要特點。此外，配合離子束剝離技術(shù)和變角XPS技術(shù)，還可以進行薄膜材料的深度分析和界面分析。如何評價x射線光電子能譜分析儀器的優(yōu)劣呢？x射線光電子能譜分...

XRF由X-射線激發(fā)源、樣品測試臺、X-射線檢測器、數(shù)據(jù)處理器和控制系統(tǒng)組成。XRF所用的射線對人體有害，所以所有產(chǎn)生射線的設(shè)備應(yīng)該按照嚴格的安全程序來操作，另外要做好對試驗人員的健康防護。XRF測試是的程序：1.按照儀器的工作指南給儀器通電，加熱設(shè)備，并按照廠家的指導(dǎo)說明使儀器穩(wěn)定。2.確保測試穩(wěn)定，按廠家的指導(dǎo)使檢測器穩(wěn)定。XRF測試校準：1.根據(jù)儀器用戶手冊的說明，按照手冊描述去選擇參比樣品作為校準樣品。樣品中元素的濃度必須各不相同。如果校準覆蓋了很多元素，濃度范圍跨度...

能量色散型X熒光光譜儀可應(yīng)用于物理、化學(xué)、地質(zhì)地理、環(huán)保、冶金、材料等領(lǐng)域中的成份分析以及工礦企業(yè)質(zhì)量監(jiān)控。能對各種物質(zhì)中金屬與非金屬元素進行定性定量分析?？刹黄茐臉悠窡o損檢測，無標樣半定量效果好。金屬、粉末與塊狀樣品可直接進樣測量。關(guān)于能量色散型X熒光光譜儀計數(shù)率不穩(wěn)定的分析：能量色散型X熒光光譜儀的常用探測器有二個：流氣計數(shù)器和閃爍計數(shù)器。閃爍計數(shù)器很穩(wěn)定，問題常出現(xiàn)在流氣計數(shù)器上。流氣計數(shù)器窗膜由一塊聚酯薄膜、聚丙烯薄膜鍍上一層很薄(約30nm)的鋁膜所構(gòu)成，由于窗膜承...