冷熱沖擊試驗(yàn)箱 新品質(zhì)量控制設(shè)備

控制系統(tǒng)

冷熱沖擊試驗(yàn)箱 新品質(zhì)量控制設(shè)備

性能特點(diǎn)

• 快速溫度變化：能夠在短時(shí)間內(nèi)實(shí)現(xiàn)溫度的急劇變化，模擬CPU芯片組在實(shí)際使用中可能遇到的快速冷暖環(huán)境交替，如從極寒到極熱的瞬間轉(zhuǎn)換，考驗(yàn)芯片組在這種條件下的性能穩(wěn)定性.

• 溫度均勻性好：無(wú)論是在高溫、低溫還是溫度切換過(guò)程中，試驗(yàn)箱內(nèi)各個(gè)位置的溫度都能保持較好的一致性，確保CPU芯片組在試驗(yàn)過(guò)程中受到均勻的溫度沖擊，使測(cè)試結(jié)果更具代表性和可靠性.

• 高度自動(dòng)化：一旦設(shè)定好測(cè)試參數(shù)，試驗(yàn)箱可自動(dòng)完成溫度循環(huán)過(guò)程，無(wú)需人工頻繁干預(yù)，減少了人為因素對(duì)測(cè)試結(jié)果的影響，同時(shí)提高了測(cè)試效率.

產(chǎn)品用途：

冷熱沖擊試驗(yàn)箱是金屬、塑料、橡膠、電子等材料行業(yè)***的測(cè)試設(shè)備，用于測(cè)試材料結(jié)構(gòu)或復(fù)合材料，在瞬間下經(jīng)溫及極低溫的連續(xù)環(huán)境下忍受的程度，得以在短時(shí)間內(nèi)檢測(cè)試樣因熱脹冷縮所引起的化學(xué)變化或物理傷害。

使用注意事項(xiàng)

• 樣品放置：需確保CPU芯片組樣品在試驗(yàn)箱內(nèi)放置穩(wěn)固，避免在溫度沖擊過(guò)程中發(fā)生位移或晃動(dòng)，影響測(cè)試結(jié)果的準(zhǔn)確性。

• 預(yù)熱與預(yù)冷：在進(jìn)行溫度切換時(shí)，應(yīng)充分進(jìn)行預(yù)熱和冷卻，防止溫度突變對(duì)測(cè)試結(jié)果產(chǎn)生影響，同時(shí)也有助于保護(hù)試驗(yàn)箱的制冷和加熱系統(tǒng).

• 安全操作：嚴(yán)格按照設(shè)備的操作手冊(cè)進(jìn)行操作，注意設(shè)備的正常工作狀態(tài)，避免因誤操作導(dǎo)致設(shè)備故障或安全事故的發(fā)生.