一、XRF測(cè)試條件

1、厚度

a.試料厚度zui少3mm以上才行；

b.不足時(shí)用同樣的Sample層疊后測(cè)試。

2、長(zhǎng)度

=>采取Sample時(shí)，試料長(zhǎng)度zui少3mm以上才行。

3、試料面

=>試料盡可能平面部位里采取。

4、符合材質(zhì)

=>單一材質(zhì)(homogeneousmaterial)狀態(tài)下分離或,從供給社接到供給實(shí)施XRF評(píng)價(jià)。

5、粉碎/液晶試料

=>單一材質(zhì)狀態(tài)試料非常小或PowderType或液狀試料情況下,用別度試料容器MylarFilm堵住一邊,容器內(nèi)將試料填滿后X線不能通過(guò)實(shí)施分析

=>引用電溶液有機(jī)容器有擴(kuò)散的可能性XRF分析不可能

二、臺(tái)式XRF能譜儀一體機(jī)判定基準(zhǔn)

1、對(duì)不適合品對(duì)一個(gè)的Sample其他部位zui少3回以上測(cè)定后標(biāo)記平均值

2、單一材質(zhì)狀態(tài)是PVC材質(zhì)的情況下XRF分析結(jié)果以當(dāng)社管理基準(zhǔn)-10%,+30%為止通過(guò)精密分析判定合/不,其以上的情況下無(wú)需精密分析進(jìn)行不合格處理.

3、對(duì)非常小的Chip部品或分離不可能的部品以部品狀態(tài)實(shí)施XRF評(píng)價(jià)脫離Spec情況下從供給業(yè)體開始單一材質(zhì)別度接收供給后再實(shí)施XRF評(píng)價(jià)。

4、可圖章的顏色不合格時(shí)從部品業(yè)體開始以固化的材料接收后實(shí)施XRF再評(píng)價(jià)。

三、發(fā)生可能性問(wèn)題

1、ROHS6代成分中一部分不能立即判定:A.Br時(shí)T-Br管理B.Cr時(shí)不好區(qū)分Cr和Cr6+

2、試料是否精密:分析試料特別小或不好分析時(shí)也有。

3、分析時(shí)其他成分妨害